模擬： IEC 61326-1：2012的電氣測量，控制和實驗室設備使用-EMC要求-第1：一般要求
更換： EN 61326-1：2006年-用于測量，控制和實驗室用電氣設備的EMC要求-第1：一般要求
在此版本中的新增：
•藥敏試驗等級和性能標準進行了審查;
•澄清和修改了便攜式測試和測量設備的要求;
•電磁環(huán)境描述已得到改進。
范圍
國際標準EN 61326 - 1：2013適用于電池或電網(wǎng)運行的電氣設備，估計電壓高達1000 V AC或1500 V DC，用于專業(yè)，工業(yè)或非工業(yè)，制造，教育目的，包括以下設備：
- 測試和測量;
- 控制;
- 實驗室用途;
- 用于上述設備的配件。
- 用于住宅，商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境的設備，如EN 61000 - 6 - 1所述 ;
- 擬用于工業(yè)場所的設備;
- 在具有受控電磁環(huán)境的實驗室中使用的設備;
- 便攜式測試和測量設備。
用于計算的計算和組裝設備以及符合適用信息技術設備EMC標準的信息技術設備（ITE）范圍內的類似設備可用于EN 61326 - 1：2013范圍內的系統(tǒng)，并且不進行額外的測試如果信息技術設備適用于預期的電磁環(huán)境，則必要。
分類
國際標準EN 61326 - 1：2006年為它涵蓋設備的分類，有國際標準參考EN 55011：2016，分隔所有設備以兩種組-組1和組2，每一組在細分2類-類1和類2。
組1 -涵蓋未覆蓋組中所有設備2
組2 -覆蓋一個有意產生設備的RF頻率范圍能量9 kHz- 400GHz，用于形成電磁輻射，電感耦合，電容耦合，用于材料分析或檢查。
A類 - 涵蓋在家庭以外的所有機構中使用的設備，以及未直接連接到供應家庭環(huán)境的低壓供電網(wǎng)絡的設備。
B類 - 涵蓋直接連接到供應家庭環(huán)境的低壓供電網(wǎng)絡的家庭設施中使用的設備。
如果應用A類要求，則應在使用說明書中包含以下或類似警告：
注意
| 本設備不適用于居住環(huán)境，可能無法為此類環(huán)境中的無線電接收提供足夠的保護。 |
實施例
的電氣測量和測試設備，該記錄或指示一個或多個電氣或電非分析儀quantities-，發(fā)電機，電源供應器，換能器。
將一個或多個輸出量控制到特定值的設備 - 工業(yè)過程測量和控制設備，包括控制器，調節(jié)器，電源和電源系統(tǒng)，執(zhí)行器，指示器定位器，振動器。
實驗室設備，用于測量或監(jiān)測樣品或用于制備樣品。也用于工業(yè)廠房和實驗室或住宅樓宇的體外設備。
要求
的范圍之內設備EN 61326 - 1：2013可能在不同的環(huán)境中運行。發(fā)射和抗擾度測試要求的適用性取決于電磁環(huán)境。EN 61326 - 1：2013涵蓋三種類型的電磁環(huán)境：
•基本電磁環(huán)境 - 由公共電網(wǎng)低壓直接供電的區(qū)域（房屋，公寓，商店，超市，電影院，酒吧，加油站，停車場，公交車站） ，車間，實驗室，服務中心）
•工業(yè)電磁環(huán)境 - 由單獨的電力網(wǎng)絡（高壓或中壓變壓器）提供的環(huán)境，專用于為具有以下一種或多種條件的制造或類似工廠供電的設備： -
頻繁切換重電感/容性負載;
- 高電流和高磁場;
- ISM設備的存在。
•受控的電磁環(huán)境 - 環(huán)境通常以識別和控制EMC威脅為特征。
限制
排放必須符合規(guī)定的要求：
EN 55011：2016工業(yè)，科學和醫(yī)療設備-射頻干擾特性限值和測量方法
EN 61000 - 3 - 2：2014電磁兼容性（EMC） -第3 - 2：限制-諧波電流發(fā)射限值（設備輸入電流≤ 16每相）
EN 61000 - 3 - 3：2008電磁兼容性（EMC） - 第3 - 3部分：限制的電壓變化，電壓波動，并在公共低電壓供電系統(tǒng)閃爍-Limitation的設備用額定電流≤ 16每相，不受條件連接（IEC 61000 - 3 -3：2008）
抗干擾要求
性能標準A.
被測設備應在測試期間和測試后繼續(xù)按預期運行，當設備按預期使用時，不允許性能下降或功能喪失低于制造商規(guī)定的性能水平。性能水平可能會被允許的性能損失所取代。如果制造商未規(guī)定最低性能水平或允許的性能損失，則可以從產品描述和文檔中獲得這些中的任何一個，以及如果按預期使用，用戶可以合理地期望從設備中得到什么。
績效標準B.
被測設備應在試驗后繼續(xù)按預期運行。當設備按預期使用時，不允許性能下降或功能喪失低于制造商規(guī)定的性能水平，性能水平可能會被允許的性能損失所取代。在測試期間，允許性能下降。不允許更改實際操作狀態(tài)或存儲數(shù)據(jù)。如果制造商未規(guī)定最低性能水平或允許的性能損失，則可以從產品描述和文檔中獲得這些中的任何一個，以及如果按預期使用，用戶可以合理地期望從設備中得到什么。
標準B例子1
通過奇偶校驗或其他方式控制/檢查數(shù)據(jù)傳輸。在發(fā)生故障時，諸如由雷擊的情況下，數(shù)據(jù)傳輸
將自動重復。此時降低的數(shù)據(jù)傳輸速率是可以接受的。
標準B示例2
在測試期間，模擬函數(shù)值可能會偏離。測試后，偏差消失。
標準B示例3
在使用指示器/監(jiān)視器/顯示器的情況下，可以接受在短時間內發(fā)生一些降級，例如在EFT測試期間的閃爍。
標準B示例4
如果可自行恢復，則允許改變運行狀態(tài)。
性能標準C
允許暫時失去功能，前提是該功能可自行恢復或可通過控制操作恢復。
標準C示例1
在主電源中斷的情況下，設備的電源單元被關閉。開啟可以是自動的，也可以由操作員進行。
標準C示例2
在測試期間和之后，設備的處理器功能停在指定位置并且不會處于“崩潰狀態(tài)”。操作員的決定提示可能是必要的。
標準C例3
在浪涌測試期間，過流保護介入。因此，過電流保護裝置由操作員更換或重置。
被測設備應在測試期間和測試后繼續(xù)按預期運行，當設備按預期使用時，不允許性能下降或功能喪失低于制造商規(guī)定的性能水平。性能水平可能會被允許的性能損失所取代。如果制造商未規(guī)定最低性能水平或允許的性能損失，則可以從產品描述和文檔中獲得這些中的任何一個，以及如果按預期使用，用戶可以合理地期望從設備中得到什么。
績效標準B.
被測設備應在試驗后繼續(xù)按預期運行。當設備按預期使用時，不允許性能下降或功能喪失低于制造商規(guī)定的性能水平，性能水平可能會被允許的性能損失所取代。在測試期間，允許性能下降。不允許更改實際操作狀態(tài)或存儲數(shù)據(jù)。如果制造商未規(guī)定最低性能水平或允許的性能損失，則可以從產品描述和文檔中獲得這些中的任何一個，以及如果按預期使用，用戶可以合理地期望從設備中得到什么。
標準B例子1
通過奇偶校驗或其他方式控制/檢查數(shù)據(jù)傳輸。在發(fā)生故障時，諸如由雷擊的情況下，數(shù)據(jù)傳輸
將自動重復。此時降低的數(shù)據(jù)傳輸速率是可以接受的。
標準B示例2
在測試期間，模擬函數(shù)值可能會偏離。測試后，偏差消失。
標準B示例3
在使用指示器/監(jiān)視器/顯示器的情況下，可以接受在短時間內發(fā)生一些降級，例如在EFT測試期間的閃爍。
標準B示例4
如果可自行恢復，則允許改變運行狀態(tài)。
性能標準C
允許暫時失去功能，前提是該功能可自行恢復或可通過控制操作恢復。
標準C示例1
在主電源中斷的情況下，設備的電源單元被關閉。開啟可以是自動的，也可以由操作員進行。
標準C示例2
在測試期間和之后，設備的處理器功能停在指定位置并且不會處于“崩潰狀態(tài)”。操作員的決定提示可能是必要的。
標準C例3
在浪涌測試期間，過流保護介入。因此，過電流保護裝置由操作員更換或重置。